一般無特殊發現，染色體基因連鎖分析可出現異常。
應做腦CT、腦電圖檢查，雙耳分聽技術，電生理方法，皮質血流分析，透示器半邊視野等方法，可發現患兒腦結構側化異常。腦電圖可有非特異性異常改變。
1.腦電圖檢查 約有50%患特殊學習不能症的兒童存在腦電圖異常，主要表現在頻率和振幅的異常，但並沒有特征性腦電圖表現。
2.誘發電位檢查 20世紀70年代起，聽覺和視覺誘發電位開始應用於對這類患兒的研究，發現閱讀障礙患兒大腦左半區視覺誘發電位振幅改變，視覺和聽覺誘發電位的潛伏期均延長。近年來事後相關電位(after event related electric potential)已逐步引起人們的重視，已有研究證實患兒的該電位潛伏期超過300ms。目前認為上述這些測試手段尚不能成為一種獨立的輔助檢查。
3.神經影像學檢查 神經影像技術的發展亦使特殊學習不能症的研究有了一些新的發現，已有一些研究先後發現這類患兒有時會出現顳平麵錯位的現象。正常情況下顳葉的言語中樞，常位於腦之左側，而閱讀障礙患兒的這一區域常在右側。正電子激發X射線體層掃描(PET)的研究發現，閱讀障礙兒童在閱讀時存在視區和額葉皮質區域性功能改變。最近氙單光子激發計算機控製X射線體層掃描(SPECT)的研究發現，閱讀障礙兒童額部腦血流下降，據認為此對特殊學習不能症有一定輔助診斷價值。
